蘋果公開承認iPhone 6/6 Plus設(shè)計有缺陷！

　　蘋果就是這樣，出了問題都表現(xiàn)很霸氣，現(xiàn)在他們公開承認，iPhone 6、6 Plus存在設(shè)計缺陷。

　　大家應(yīng)該還記得，之前iPhone 6系列出現(xiàn)的手機屏幕頂端出現(xiàn)閃爍的灰色橫條，觸摸屏沒法使用的情況吧，經(jīng)過專業(yè)拆解網(wǎng)站iFixit拆解后發(fā)現(xiàn)，設(shè)計缺陷導(dǎo)致會出現(xiàn)Touch Disease的問題。

　　具體來說就是，在iPhone 6/6 Plus中，Touch IC芯片是通過一系列很小的焊錫球連接到邏輯板的，若手機在使用過程中稍微彎曲，這些焊錫球可能就會出現(xiàn)裂縫，連接不到邏輯板，造成此“Touch Disease”問題，再簡單點來說就是，iPhone 6/6 Plus機身稍微彎曲，手機就罷工。

　　蘋果對此回應(yīng)稱，底部填充技術(shù)被用來防止芯片的性能受到手機彎曲等外界因素影響，所以這不是什么問題，但有趣的是，他們還是在2016年5月通過改進生產(chǎn)工藝解決了此Touch Disease問題。